お客様から信頼されるシリコン・パートナーとなるためには、単純に優れた製造能力を提供するだけではなく、テストを通じて、優れた品質を保証することだと考えます。​​

当社のテストサポートは、低価格帯から高価格帯のSoC向けまで、あらゆる種類のテストに対応しており、特性評価や製品仕様に応じて最適化され、短期間での評価を効率よく実現する手助けをします。​

​さらに、量産段階におけるコストを削減するために、マルチサイトやコンカレントテストも提供します。また、綿密な特性評価をベースに、ウエハ及びパッケージ試験において、冗長なテスト項目をスキップし、テスト時間を、測定品質を落とすことなく短縮し、お客様のコスト削減に貢献します。​

アルチップのテストプログラム・冶具開発フローは、お客様に最高品質の製品の提供を保証するために、５つのステップに分かれています。

最適なテスターの選択

ADVANTEST(旧Verigyを含む), TERADYNE および LTX-Credence でのテストプログラム開発実績があります。​

​弊社専用のテスタ(V93K)をテストハウス所有しており、​設計段階においては優先的な使用が可能です。​

テスト冶具の設計及び製造

プローブ・カードやロードボード、ソケットやチェンジキットといった冶具の設計、製造においても実績があります。

パターン変換

テストプログラム開発

SCAN, Memory BIST, JTAG等のベーシックなロジックテストから、DDR, PCIe, USB, SATA, LVDS といった高速インターフェイステストや ADC, DAC, RF等のアナログテスト等の開発実績をもとに、自社でテストプログラム開発を短期間で行います。

また、冶具設計時には綿密なシミュレーションを行ってますので、短期間でのデバッグが可能となります。

特性評価

最終的に、電圧・タイミングのマージン試験といった特性評価を行います。